Neues Softwarepaket für effizientes, intuitives und sicheres Prüfen auf Waferebene
(pressebox) Dresden, 04.12.2008 – SUSS MicroTec Test Systems hat das ProberBench(TM) Operating Environment, ein komplett ausgestattetes Softwarepaket für effizientes, intuitives und sicheres Prüfen auf Waferebene, vorgestellt. 1995 veränderte SUSS MicroTec das Testen auf Waferebene schon einmal von Grund auf, indem das Unternehmen die erste windowsbasierte Software zur Testsystemsteuerung entwickelte. Nun, über zehn Jahre später, bringt SUSS MicroTec erneut eine revolutionäre Software für die Waferprüfsysteme des 21. Jahrhunderts auf den Markt.
"Das ProberBench(TM) Operating Environment stellt eine vollständige Überarbeitung der Nutzeroberfläche und -architektur dar", sagte Dr. Stojan Kanev, Leiter Marketing und Produkt Management bei SUSS MicroTec Test Systems. "Die Entwicklung basierte hauptsächlich auf einer umfangreichen, dreimonatigen Studie in den Laboren verschieden großer und kleiner Halbleiterdesigner und -hersteller."
Nach den Ergebnissen der Studie waren die Benutzer mit den existierenden Lösungen unzufrieden, da diese mit zu vielen unnötigen Features und verwirrenden Schnittstellen ausgestattet waren. Mehrere Unternehmen berichteten von zahlreichen Schäden an Prüfkarten und Wafern – Probleme, die unmittelbar mit der Fehlinterpretation von Softwaresignalen und -meldungen zusammenhingen.
Darüber hinaus äußerten alle Interviewpartner den Wunsch nach einer Automatisierungsmöglichkeit für einzelne Abläufe, um Prüfdurchgänge über Nacht oder am Wochenende unbeaufsichtigt ausführen und somit die Produktivität erheblich steigern zu können.
Das ProberBench(TM) Operating Environment erfüllt all diese Bedürfnisse und erhöht dadurch die Effizienz und Betriebssicherheit bei der Konfiguration sowie dem Ablauf von Prüfvorgängen auf Waferebene erheblich. Die neue Software beinhaltet ein Control Center, in dem der Benutzer Zugang zu sämtlichen Navigations- und Steuerungselementen hat. Hier erhält der Benutzer außerdem jederzeit aktuelle Meldungen über die Position des Wafers und der Prüfspitzen für zuverlässige sichere Navigation und Prüfung. Ebenfalls im Operating Environment enthalten ist das neue SPECTRUM(TM) Vision System, das bis zu vier Live-Video-Ansichten wie zum Beispiel ContactView(TM) – eine horizontale Ansicht der Prüfspitzen und des Wafers zur Eliminierung teurer Prüfkarten- und Wafer-Schäden – sowie eine aufwärts gerichtete Kamera zur Ansicht der Spitzen von Fine-Pitch-Prüfkarten bietet.
Darüber hinaus bietet das ProberBench(TM) Operating Environment verschiedene Automatisierungsoptionen.
Hierzu gehört unter anderem ein Tool zur automatischen Ausrichtung der Wafer und Erstellung von Wafer Maps. Ebenfalls möglich ist die Kommunikation mit Testprogrammen wie IC-CAP (Agilent), KITE (Keithley), BSIMPro (ProPlus) u.v.a. In Kombination mit den einzigartigen Automated Thermal Management(TM) – und ReAlign(TM) -Technologien von SUSS MicroTec sind automatische Testdurchläufe bei verschiedenen Temperaturen über Nacht und am Wochenende möglich. Damit wird die Systemausnutzung erhöht, die Vorlaufzeit verkürzt und die Rentabilität wesentlich verbessert.
Eine Betaversion der ProberBench(TM) Operating Environment wird bei der SEMICON Japan vom 3. bis 5. Dezember 2008 vorgestellt. Erste Lieferungen der Software sind für das 1. Quartal 2009 geplant.
Ansprechpartner:
Herr Joshua M. Preston
SUSS MicroTec Test Systems
Telefon: +49 (35240) 73-0
Zuständigkeitsbereich: Marketing Group Manager
Frau Julia Hartmann
SÜSS MicroTec AG
Telefon: +49 (89) 32007-161
Fax: +49 (89) 32007-336
Zuständigkeitsbereich: Investor Relations/PR
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