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(pressebox) Wunstorf, 17.09.2009,

GE Sensing & Inspection Technologies präsentiert auf der FAKUMA 2009 in Halle B2 auf Stand 2304 hochauflösende CT -Lösungen seiner Produktline phoenix|x-ray. Mit ihnen eröffnen sich ganz neue Dimensionen bei der Prozesskontrolle oder Erstbemusterung von Bauteilen sowohl aus reinem Kunststoff als auch faserverstärkt oder mit Metalleinlagen.

Der Tomograph durchstrahlt das Bauteil und ermittelt in 3D mikrometergenaue Abweichungen gegenüber den CAD-Konstruktionsvorgaben oder identifiziert Porositäten, Lunker und Risse. Besonders komplexe Bauteilgeometrien mit schwer zugänglichen oder verborgenen Merkmalen sind mit CT in vielen Fällen schneller zu erfassen als mit taktilen Koordinatenmessmaschinen. Zusätzlich erreicht man mit CT gegenüber traditionellen zerstörenden Prüfverfahren oftmals eine schnellere und effektivere Aussage über Bauteildefekte.

Das auf dem GE-Stand ausgestellte phoenix nanotom® ist das erste 180 kV nanoCT®-System und geeignet für die Untersuchung und Messung von Teilen bis 12 cm Durchmesser. Mit seiner nanofocus-Röntgenröhre, seinem granitbasierten Manipulationssystem sowie seinem Multi-Megapixel Digitaldetektor mit Messbereichserweiterung bietet es exzellente Bildauflösung und Vergrößerungen bei Voxelauflösungen von weniger als 0,5 Mikrometern und Messunsicherheiten von ebenfalls weniger als 0,5 µm. Dank Hard- und Softwareinnovationen wie velo|CT und fast|scan ist es nun möglich, im produktionsnahen Einsatz aussagekräftige CT-Ergebnisse innerhalb weniger Minuten zu erzielen.

Die bedienungsfreundliche und hoch effiziente phoenix|x-ray CT-Software datos|x mit ihren zahlreichen Modulen zur Optimierung der CT-Ergebnisse bietet hohe Präzision und Qualität. Tomographen für Metrologie-Anwendungen werden mit einem speziellen Metrologie-Paket ausgestattet, das von der einfachen Einstellung und Rückführung der Anlagengeometrie mittels eines kalibrierten Prüfkörpers über vollautomatische Strahlaufhärtungskorrektur bis hin zu einer Schnittstelle für das Ausführen von automatisierten Messabläufen aus datos|x alles beinhaltet, um 3D-Messungen mit CT so akkurat und benutzerfreundlich wie möglich zu machen.

Über das ausgestellte System hinaus bietet GE Sensing & Inspection Technologies ein breites Spektrum von Computer-Tomographen für Proben von bis zu 100 kg und 800 mm Durchmesser, mit denen auch größere Gussteile komplett dreidimensional erfasst, analysiert und dreidimensional gemessen werden können.
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