Bergisch Gladbach (ots) – FRT zeigt auf der diesjährigen internationalen Photovoltaikausstellung PVSEC neue, budgetfreundliche Messtechnik, die passgenau auf Aufgabenstellungen in der Photovoltaikentwicklung und -produktion zugeschnitten ist. Mit Mikro- und Nanometerauflösung werden Rauheit, Kontur und 3D-Topographie sowie die Dicke sehr dünner Beschichtungen gemessen. Live-Testmessungen können direkt am FRT Stand (B5/42) mit dem neuen optischen Profilometer MicroSpy Profile durchgeführt werden. Auch für die Messung der Schichtdicke steht entsprechende Technik zur Vorführung bereit.
Mit dem neuen 3-D Oberflächenmessgerät MicroSpy Profile und dem Schichtdickenmessgerät MicroSpy FT ergänzen die FRT-Experten das erstmals 2008 vorgestellte Konfokalmikroskop MicroSpy Topo um zwei weitere budgetfreundliche Messgeräte, die sich durch hohe Wirtschaftlichkeit und zugleich optimale Leistungsdaten (z.B. Messung nach DIN und ISO) auszeichnen.
MicroSpy Messgeräte sind kompakte Single-Sensor-Systeme mit einer zusätzlichen CCD-Kamera für die komfortable Positionierung der Probe unterhalb des Messkopfes. Dies erfolgt mittels eines motorisierten Verfahrtisches in x,y-Richtung. Je nach Modell erfolgt die Annährung des Sensors an die Probe in axialer Richtung über eine manuelle Verstelleinheit mit Grob- und Feintrieb oder mit einer motorisierten z-Achse.
FRT bietet verschiedene Sensortechnologien für den Einsatz in den MicroSpy Geräten an. Im MicroSpy Topo kommt die flächenhaft messende konfokale Mikroskopie zum Einsatz. In den beiden neuen Geräten wird je nach Anwendungszweck ein chromatisch-interferometrischer oder reflektometrischer Punktsensor verbaut. Die Punktsensoren sind mit unterschiedlichen Messbereichen erhältlich, sodass ein breites Anwendungsspektrum auf unterschiedlichsten Oberflächen abgedeckt wird. Hierzu zählen z.B. Topographiemessungen von Pyramidenstrukturen und anderen Laserstrukturen, Dickenmessungen von Antireflexionsschichten sowie präzise Rauheits- und Profilmessungen an Fingern.
Um mehr über die Geräte der MicroSpy Serie zu erfahren und den neuen MicroSpy Profile live in Aktion zu erleben, besuchen Sie FRT auf der PVSEC Hamburg in Halle B5, Stand 42!
Weitere Informationen:
http://www.profilometer.com/de http://www.schichtdicke.eu
Pressekontakt:
Dr. Oliver Schillings
Alpha & Omega PR
Tel.: +492202959002
E-Mail: o.schillings@aopr.de
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