(pressebox) München, 02.06.2009, Advantest Corporation stellt eine erweiterte Konfiguration des neuen schnellen Speichertestsystems T5503 vor, das mit bis zu 256 DDR3-Bauteilen die derzeit höchste verfügbare parallele Testkapazität bietet. Das Testsystem mit der erweiterten Konfiguration ist unter der Produktbezeichnung T5503 8448 Channel Test Head ab sofort erhältlich.
Anbieter von schnellen Speichern benötigen schnelle Testlösungen
Die Breitband-Kommunikation ist mittlerweile aus vielen Bereichen nicht mehr wegzudenken. Künftig werden weitere Anwendungen mit hohem Video-, Audio- und Online-Content erwartet, die eine noch höhere Qualität und größere Kapazität erfordern. Durch die steigende Nachfrage nach sehr schnellen Speichern mit geringem Stromverbrauch bei diesen Applikationen ist in absehbarer Zeit ein Umstieg von DDR2-SDRAM auf DDR3-SDRAM notwendig. Die höhere Leistung von DDR3 Modulen in Verbindung mit dem geringeren Stromverbrauch verspricht eine deutliche Leistungssteigerung von Geräten wie PCs, Notebooks und Servern, aber auch bei fortschrittlichen Konsumgütern wie Spielkonsolen und HDTV.
Mit diesem Umstieg auf DDR3-SDRAMs ist ein entsprechender Bedarf der Bauteilhersteller für schnellere und noch genauere Testsysteme verbunden. Das Testsystem T5503 mit 8448 Channel Test Head von Advantest adressiert genau diese Forderungen und gewährleistet bei überlegenem Durchsatz niedrigste Testkosten in der Fertigung.
Mit der neuen, erweiterten Konfiguration des T5503 stärkt Advantest seine führende Marktposition im Bereich der Speichertestlösungen. Dieses System bietet eine sehr hohe parallele Testkapazität von 256 DUTs. In Kombination mit dem Handler M6242 von Advantest ergibt das System T5503 eine DDR3-Testzelle, die sowohl höchste Performance, hohe Fertigungsausbeute, sowie niedrigste Kosten beim Test großer Stückzahlen gewährleistet.
Funktionalität und Vorteile
1. Parallele Test von bis zu 256 DDR3-SDRAM-Bauteilen Das Testsystem T5503 mit 8448 Channel Test Head bietet die doppelte parallele Testkapazität des bisherigen Modells T5503, wodurch es eine ideale Testlösung für die Fertigung schneller Speicher in großen Stückzahlen ist.
2. Kompatibel zum dynamischen Test-Handler M6242 Durch die Kompatibilität mit dem M6242, dem fortschrittlichen Test-Handler von Advantest, ist das System T5503 Teil einer Gesamtlösung für den hochvolumigen Backend-Test.
Optionale Konfiguration ermöglicht eine parallele Testkapazität von 256 DUTs für stacked DRAMs. Die Bare-Die Stacking Technologie erlaubt eine deutliche Erhöhung der Pinzahl von DDR3-SDRAM-Bauteilen. Mit der für das erweiterte T5503 System verfügbaren optionalen Pinkarte lässt sich eine parallele Testkapazität von 256 DUTs auch bei Stacked High-Speed DRAMs gewährleisten
Technische Daten:
Bauteiltypen: DDR3-SDRAM, GDDR3, GDDR4, etc.
Parallele Testkapazität: Max. 256 DUTs
Max. Testgeschwindigkeit: 3,2Gbps
Anmerkung: Änderungen ohne vorherige Ankündigung vorbehalten.Über Advantest (Europe) GmbH
Advantest Corporation ist Weltmarktführer bei automatischen Testsystemen (Automatic Test Equipment, ATE) für die Halbleiterindustrie. Das Unternehmen entwickelt und produziert neben Testsystemen auch Device Handler, mechanische und elektrische Schnittstellen sowie Software und kann damit vollständige Lösungen für den Test von Halbleitern anbieten. Die Logik-, Memory-, Mixed-Signal- und HF-Tester sowie die Device-Handler von Advantest finden sich in den weltweit modernsten Halbleiter-Fertigungsstätten. Weitere Informationen über das Unternehmen sind verfügbar unter: www.advantest.de
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