Kostengünstiger Test analoger Bauteile
Advantest Kyushu Systems stellt analoges Testsystem ADS1911 vor
(pressebox) München, 10.12.2008 – Advantest Kyushu Systems Co., Ltd., eine Tochtergesellschaft der Advantest Corporation (TSE: 6857, NYSE: ATE), stellt das neue analoge Testsystem ADS1911 vor. Das ab Januar 2009 verfügbare ADS1911 ermöglicht einen kostengünstigen Test von analogen ICs mit relativ wenigen Pins (bis 32 Pins). Das System wurde bereits vom 3. bis 5. Dezember während der SEMICON Japan 2008 gezeigt, die in der Makuhari Messe in der Nähe von Tokyo stattfand.
Die heutigen Halbleiter sind äußerst mannigfaltig und reichen von multifunktionalen Bauteilen mit sehr vielen Pins, wie den LSIs in Personal Computern, über diskrete Bauteilen mit nur einer Funktion, wie Transistoren und Dioden, bis hin zu analogen ICs mit relativ wenigen Pins. Analoge ICs und diskrete Bauteile, kommen in einer Vielzahl von Geräten, wie Mobiltelefonen, Konsumelektronik, Spielkonsolen und Automobilelektronik, zum Einsatz und zeichnen sich meist durch besonders niedrige Stückkosten aus. Das ADS1911 wurde speziell für die Anforderungen der Hersteller derartiger Bauteile entwickelt, die ein System benötigen, das sehr niedrigere Testkosten für diese Art von Bauteilen ermöglicht.
Entscheidende Merkmale des ADS 1911:
- Paralleler Test von bis zu acht diskreten Bauteilen & analogen ICs Durch seine Modulkonfiguration erlaubt das ADS1911 einen parallelen Test von bis zu 8 diskreten Bauteilen und analogen ICs, und kann damit die Testkosten reduzieren.
- Höhere Fertigungsausbeute bei DC-Tests*
Um einen genauen DC-Test sicherzustellen, verfügt das ADS1911 über eine sehr genaue DC-Kalibrierungsfunktion. Diese gewährleistet minimale Leistungsdifferenzen zwischen den installierten Systemen und ermöglicht somit eine Verbesserung der Fertigungsausbeute und eine Senkung der Kosten.
- Benutzerfreundliches Tool zur Testprogramm-Erstellung spart Zeit erhöht die Produktivität Das Tool zur Testprogramm-Erstellung des ADS1911 erlaubt eine Auswahl der benötigten Testparameter mittels Pull-down-Menüs. Durch dieses einfache Format ist keine spezialisierte Programmiersprache notwendig und die Erstellung der Testprogramme wird vereinfacht und beschleunigt.
* DC-Test: Messung der DC-Charakteristik des Eingangs- und Ausgangsstroms, der Eingangs- und Ausgangspannung, der Stromquelle, etc. eines Testobjekts (DUT)
Technische Daten:
Bauteiltypen: Gängige analoge ICs, diskrete Bauteile, optoelektronische Halbleiterbauteile, gängige Logik-ICs
Parallele Testkapazität: Bis zu 8 Bauteile
Spannung / Strommessung Funktioniere: Bauteil-Stromquelle:
Max. 8 Kanäle, ±128V/±32mA, ±64V/±64mA, ±4V/±2A, (Impuls)
Eingangs- / Ausgangsstromquelle:
Max. 64 Kanäle, ±64V/±32mA?±4V/±64mA
Anmerkung: Änderungen ohne vorherige Ankündigung vorbehalten.
Ansprechpartner:
Frau Melanie Bodem
Advantest (Europe) GmbH
Telefon: +49 (89) 99312-131
Fax: +49 (89) 99312-184
Zuständigkeitsbereich: Manager Corporate Communications
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